Помощничек
Главная | Обратная связь


Археология
Архитектура
Астрономия
Аудит
Биология
Ботаника
Бухгалтерский учёт
Войное дело
Генетика
География
Геология
Дизайн
Искусство
История
Кино
Кулинария
Культура
Литература
Математика
Медицина
Металлургия
Мифология
Музыка
Психология
Религия
Спорт
Строительство
Техника
Транспорт
Туризм
Усадьба
Физика
Фотография
Химия
Экология
Электричество
Электроника
Энергетика

РЕНТГЕНОВСКИЙ И ГАММА МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ



Основаны на использовании высокой проникающей способности лучей. Их общий признак – эл.-магнитная природа. Отличаются - спо­собом возникновения и по спектральному составу.

Рентгеновские - возникают в результате торможения электро­нов, летящих от горячего катода на вольфрамовое зеркало анода рентгеновской трубки.

Гамма - лучи - образуются в процессе изменений энерге­тического состояния атомных ядер при аннигиляции частиц некоторых неустойчивых изотопов. Чем короче длина волны излучения, тем больше его проникающая способность. Коротковолновое излучение - "Жесткое", длинноволновое - "Мягкое". Коротко волновое излуче­ние несет в себе большую энергию, чем длинноволновое.

Важность значения в рентгеновской дефектоскопии имеет интенсивность излученияколичество энергии лучей, попадающей в ед. времени на ед. площади. Чем больше интенсивность, тем более сильное или более быстрое действие оказывает излучение на мате­риалы, используемые в качестве индикаторов для этого излучения (рентгеновская фотопленка, экран).

Самопроизвольный (спонтанный) распад неустойчивых ядер называется - радиоактивностью. Тормозное рентгеновское излучение (тормозящееся полем атома и ядра) имеет сплошной спектр, подобно видимому белому свету. Поэтому тормозное рентгеновское излучение называется "белым". Характеристическое излучение - спектр явля­ется линейчатым. Практического значения в рентгеновской дефекто­скопии это излучение не имеет.

Гамма-излучение имеет нелинейчатый спектр, соответствующий монохроматическим излучениям различной интенсивности.

Наиболее употребительными радиоактивными источниками в гамма дефектоскопии являются изотопы Иридия192 (Ir192), Кобальта60 (Co60). Энергию и интенсивность рентгеновского излучения можно регулиро­вать, изменяя анодное напряжение. Энергия гамма излучения - пос­тоянна. При прохождении через слой вещества интенсивность излучения уменьшается. Закон ослабления параллельного пучка монохро­матических рентгеновских или гамма-лучей слоем вещества толщиной d имеет вид:

1. J=J0-μd.

μ – линейный коэффициент ослабления;

d – толщина вещества;

J – интенсивность пучка прошедшего слой вещества;

J0 – интенсивность пучка d=0.

За просвечиваемым объектом образуется невидимое радиационное изображение, которое преобразуют в видимое (радио-, Фотографический- пленка; радиоскопический, визуальный - флюороскопический экран, рентгеновский электронно-оптический преобразователь (РЭОП) или рентгено-телевизионные установки с флюороскопическим экраном.

Наиболее удобный для контроля изделия в условиях эксплуа­тации является радиографический метод, т.к. он наиболее чувстви­телен к дефектам, технологичен и обеспечивает хорошую документаль­ность (рентгенограмма долго хранится).

Фотометод - радиографическое изображение преобразуется эмульсией R-пленки (после фотообработки) в светотеневое види­мое изображение. Степень почернения пленки пропорционально продолжительности и интенсивности излучения.

Чувствительность радиографического метода зависит от характера дефекта (включения более плотного материала, ракови­ны, поры, непроверенная трещина, рыхлоты) и другие нарушения сплошности условии просвечивания, характеристик источников и регистраторов излучения (пленки). От этого зависит четкость, кон­трастность, качество R - граммы. Для оценки и проверки качества R-граммы служат эталоны (пенетрометры) - набор проволочек различного диаметра (проволочные эталоны), пластинок с канавка­ми различной глубины (эталоны с канавками), эталоны с отвер­стиями, лунками. Качество снимков и выявляемость дефектов выше и четче при более четкой проработки эталонов на R-грамме, снятые одновременно с контролируемой деталью. На четкость снимка оказывает большое внимание геометрические условия просвечивания, на контрастность - энергия первичного излучения, вторичное (рассеянное) возникающее в объекте при просвечивании снижает контраст­ность и четкость снимков. рис. 3.12.

 

 

Схема поясняет возникновение "размытия" изображения краев дефекта зависящих от геометрических условий просвечивания. Ширина полутени: U=0 –b/a. Чем ближе дефект к пленке, четкость выше.

Прохождение R, и γ-лучей через дефектный (А) и бездефектный (В) участки контролируемого объекта.

Ja – интенсивность излучения прошедшего через участок А - объек­та;

 

 

Jb – интенсивность излучения прошедшего в участке В.

Плотность почернения негатива в этих участках пропорциональна интенсивности падающего излучения4 контрастность полей этих участков будет пропорционально отноше­нию Ja/ Jb. Применив закон ослабления (1), находим (2)

Ja/ Jb =lμx ;

х - глубина воздушной полости;

l - основание натурального логарифма;

μ - коэффициент ослабления.

Из равенства (2) - контрастность снимков тем больше, чем больше коэффициент ослабления μ. При прочих равных условиях тем больше, чем меньше энергия излучения. В эксплуатации R - кон­троль проводят для выявления разрушившихся к сместившихся закры­тых элементов конструкции, коррозии, развившихся трещин с большим раскрытием, отклонение от правильного взаимного расположения частей механизмов.

Контроль осуществляется аппаратами: РУП - 120 - 5, РУП - 200 – 5, РАП - 160 - 10П, РАП - 160 - 10Н. Аппараты состоят:

- высоковольтный блок (рентгеновская трубка, высоковольтный ге­нератор), пульт управления, переносной штатив, система водяного охлаждения анода трубки. Анодный ток ( до 5 ма) позволяет просве­чивать стальные детали до 20 мм толщиной (35 мм), алюминиевые сплавы до 100 мм.

Пленки: РТ-5; РТ-1 - большая чувствительность. РАН - 160 - 10 - более универсальный, т.к. спектр излу­чения его содержит значительно большее "мягких" лучей, что поз­воляет получить высококачественные R - граммы алюминиевых сплавов и сталей.

Операции процессора радиографического контроля:

Ø конструктивно-технологический анализ, подготовка детали;

Ø выбор источника излучения и фотоматериалов;

Ø определение режимов и просвечивание объектов;

Ø химико-фотографическая обработка экспонированной планки;

Ø расшифровка снимков.

Для определения экспозиции пользуются графиками и номограммами. Интенсивность излучения, приходящаяся на ед. пло­щади, изменяется обратно пропорционально квадрату фокусного рас­стояния.

Сухие снимки расшифровывают на специальном устройстве - негатоскопе в проходящем свете.

 

 




Поиск по сайту:

©2015-2020 studopedya.ru Все права принадлежат авторам размещенных материалов.