Помощничек
Главная | Обратная связь


Археология
Архитектура
Астрономия
Аудит
Биология
Ботаника
Бухгалтерский учёт
Войное дело
Генетика
География
Геология
Дизайн
Искусство
История
Кино
Кулинария
Культура
Литература
Математика
Медицина
Металлургия
Мифология
Музыка
Психология
Религия
Спорт
Строительство
Техника
Транспорт
Туризм
Усадьба
Физика
Фотография
Химия
Экология
Электричество
Электроника
Энергетика

Вивчення матеріалу лекції



2. Опрацювання проблемного матеріалу, що винесений на самостійне вивчення.

Література [1-4, 7, 8]

Лекція 18. Основи рентгенівської дифрактометрії(2 год.) Рентгенівські дифрактометри для дослідження полікристалів. Схеми фокусування за Брегом-Брентано та Зееманом-Боліном. Дифрактометри загального призначення. Спеціалізовані дифрактометри..

Завдання для самостійної роботи(3 год.)

1. Вивчення матеріалу лекції.

2. Опрацювання проблемного матеріалу, що винесений на самостійне вивчення.

Література [3-4, 7, 8]

Модульна письмова контрольна робота -1 год.

Контрольні запитання до змістового модуля ІІ (виносяться на иодульну письмову контрольну роботу)

1. Розсіювання рентгенівського випромінювання вільним електроном. Множник Томсона. Поляризаційний множник.

2. Когерентне розсіяння атомом. Атомна функція розсіяння.

3. Розсіяння рентгенівського випромінювання зв’язаними електронами. Дисперсійні поправки до атомної функції розсіяння.

4. Розсіяння рентгенівського випромінювання ідеальним кристалом малого розміру. Інтерференційна функція Лауе.

5. Аналіз функції Лауе. Рівняння Лауе. Формула Вульфа-Брегга.

6. Запис інтерференційної функції в оберненому просторі. Інтерференційне рівняння та його графічна інтерпретація.

7. Побудова Евальда. Зв’язок форми та розмірів вузла оберненої гратки з формою та розмірами кристалу.

8. Розсіяння рентгенівських променів непримітивною елементарною коміркою. Структурний множник.

9. Розрахунок структурного множника для упорядкованих структур. Правила погасання.

10. Інтегральна інтенсивність відбивання від полікристалів. Множник Лоренца.

11. Вплив поглинання на інтенсивність дифракційних максимумів. Абсорбційний множник.

12. Множник повторюваності.

13. Вплив теплових коливань атомів на інтенсивність дифракційних максимумів. Температурний множник.

14. Розрахунок температурного множника для кристалів кубічної сингонії. Теплове дифузне розсіяння.

15. Відбивна здатність ідеального кристалу. Поправки на первинну та вторинну екстинкцію. Геометричні основи методу порошку (Дебая).

16. Підбір випромінювання. Правила підбору селективно поглинаючих фільтрів.

17. Приготування зразків. Техніка отримання рентгенівських дифракційних спектрів.

18. Інтерпретація порошкових рентгенограм, отриманих від кристалів, що належать до кубічної сингонії.

19. Індексування рентгенівських дифракційних спектрів полікристалічних речовин тетрагональної та гексагональної сингонії.

20. Метод різниць Хеса-Ліпсона для ромбічної та моноклінної сингоній.

21. Метод Іто. Його універсальність. Перетворення Делоне.

22. Прикладні пакети програм для машинного індексування рентгенівських дифракційних спектрів.

23. Рентгенівські дифрактометри для дослідження полікристалів.

24. Схема фокусування за Брегом-Брентано.

25. Схема фокусування за Зееманом-Боліном.

26. Дифрактометри загального призначення.

27. Спеціалізовані дифрактометри.

28. Прецизійні методи визначення періодів кристалічної гратки.

29. Джерела похибок та способи їх усунення.

30. Методи ектраполяції.

 

Проблемні теми для самостійної роботи :

 

1. Розрахунок та побудова схеми ХС багатокомпонентних матеріалів в залежності від анодної напруги.

2. Типи та маркування рентгенівських трубок.

3. Джерела синхротронного випромінювання та їх методичні особливості. Загальна характеристика джерел у синхротронних центрах Європи (Гамбург, Гренобль).

4. Підбір та розрахунок селективно поглинаючих фільтрів..

5. Підбір оптимальних параметрів режиму роботи рентгенівської трубки

6. Дозиметрія ДІВ

7. Вплив зв’язку електрон-ядро на атомну функцію розсіювання РП.

8. Графічна інтерпретація умов головних максимумів функції Лауе (побудова Евальда) для різних методів зйомки.

9. Розрахунок структурних амплітуд для кристалів, що належать до різних просторових груп (ГЦК, ОЦК, тип алмазу ГЩУ і надструкутри до них).

10. Вплив елементів симетрії на вигляд рівняння для розрахунку струкутрних амплітуд.

11. Вплив далекого порядку на характер дифракції РП. Надструктурні лінії. Псевдопогасання.

12. Розрахунок абсорбційного множника для різних методів зйомки

13. Вплив параметрів міжатомного зв’язку на фактор Дебая-Валлера.

14. Теплове дифузне розсіювання РП.

15. Дифузне розсіювання РП на дефектах кристалічної структури.

16. Розв’язування задач за тематикою лекцій за задачником [11] (за вказівкою викладача).

 




©2015 studopedya.ru Все права принадлежат авторам размещенных материалов.