Контрольный тест и общее условие обнаружения неисправности

Тестовый контроль применяется для контроля всех без исключения ЦУ ЭВС и считается универсальным, т.к. этот вид контроля справедлив для ЦУ(узлов) не зависимо от их функционального назначения.

Тестовый контроль предполагает:

1)построение контролирующих тестов.

2)построение диагностирующих тестов

3)контроль и поиск неисправностей с использованием тестов.

Контролирующий (диагностический) тест Т называют тупиковым контролирующим (диагностическим), если любой тест не является контролирующим (диагностическим).

Очевидно, что при проведении диагностирования желательно иметь тесты как можно меньшей длины. Это сокращает время диагностирования и объем необходимого информационного обеспечения.

Задача построения теста одна из главных и наиболее сложных в технической диагностике. Как правило, современные системы автоматизации проектирования электронных устройств имеют специальные подсистемы построения тестов.

Процесс вычисления тестов в общем случае состоит из следующих этапов:

1) определение списка допустимых неисправностей;

2) вычисление тестового набора для очередной неисправности из списка;

3) моделирование схемы на тестовом наборе для выявления подмножества обнаруживаемых неисправностей;

4) определение полноты проверки схемы на построенном тесте.

Различают методы случайного и детерминированного формирования тестов. В настоящее время методы случайного выбора тестовых наборов практически не используются.

В связи с высокой сложностью и трудоемкостью процесса построения тестов широко применяются интерактивные системы построения тестов, которые предполагают активное участие человека в этом процессе.

При изучении методологии построения тестов в качестве ОД выберем цифровые объекты, так как в теории технической диагностики наиболее глубоко проработаны задачи построения тестов для цифровых схем.

Из всего многообразия методов детерминированной генерации теста (то есть не использующих методику случайного выбора тестовых наборов) рассмотрим основные: с использованием ТН, метод активизации одномерного пути, d-алгоритм, метод булевой производной, метод ЭНФ. Последние четыре метода излагаются относительно комбинационных схем.

Заметим, что для схем с микропроцессорами получили развитие специальные подходы и методы, которые будут рассмотрены позднее.
23. Оценка тестопригодности

Виды оценки тестопригодности:

• Управляемость (оценка обеспечения на входах схемы ЭС значений, необходимых для обнаружения неисправностей)

Может быть от 0 до 1. Максимальное значение 1 на входе схемы. Значение 0 там. где невозможно установить логическое состояние, например, заземленный вход.

Значение управляемости на выходах данной схемы зависит от значения управляемости на входах, которое не всегда равно 1.

Yвых=Ky f(Yвх)

Кy - коэффициент передачи управляемости элемента, связанный с этим выходом.

f - зависит от значений управляемости всех входов.

• Наблюдаемость (оценка наблюдения реакции схемы на данную неисправность на ее выходах).

Наблюдаемость входа 1, и оа уменьшается по мере продвижения сигналов вдоль активизированного пути.

Коэффициент передачи наблюдаемости Kn - количественная мера, характеризующая уменьшение значения наблюдаемости элемента по мере продвижения к выходу вдоль активизированного пути при условии, что другие элементы схемы управляемы.

Нвых=Kn Нвх g(Увх)

Тестопригодность: Т=НУ

Общий показатель тестопригодности для всей ЭС определяется как мера средей трудоемкости получения теста для каждого элемента, а следовательно, эта мера является средним арифметическим значением тестопригодности всех элементов ЭС:

TЭС=(T)N где N-число элментов ЭС.

Поиск по сайту: