Помощничек
Главная | Обратная связь


Археология
Архитектура
Астрономия
Аудит
Биология
Ботаника
Бухгалтерский учёт
Войное дело
Генетика
География
Геология
Дизайн
Искусство
История
Кино
Кулинария
Культура
Литература
Математика
Медицина
Металлургия
Мифология
Музыка
Психология
Религия
Спорт
Строительство
Техника
Транспорт
Туризм
Усадьба
Физика
Фотография
Химия
Экология
Электричество
Электроника
Энергетика

Контрольный тест и общее условие обнаружения неисправности



Тестовый контроль применяется для контроля всех без исключения ЦУ ЭВС и считается универсальным, т.к. этот вид контроля справедлив для ЦУ(узлов) не зависимо от их функционального назначения.

Тестовый контроль предполагает:

1)построение контролирующих тестов.

2)построение диагностирующих тестов

3)контроль и поиск неисправностей с использованием тестов.

 

Контролирующий (диагностический) тест Т называют тупиковым контролирующим (диагностическим), если любой тест не является контролирующим (диагностическим).

Очевидно, что при проведении диагностирования желательно иметь тесты как можно меньшей длины. Это сокращает время диагностирования и объем необходимого информационного обеспечения.

Задача построения теста одна из главных и наиболее сложных в технической диагностике. Как правило, современные системы автоматизации проектирования электронных устройств имеют специальные подсистемы построения тестов.

Процесс вычисления тестов в общем случае состоит из следующих этапов:

1) определение списка допустимых неисправностей;

2) вычисление тестового набора для очередной неисправности из списка;

3) моделирование схемы на тестовом наборе для выявления подмножества обнаруживаемых неисправностей;

4) определение полноты проверки схемы на построенном тесте.

 

Различают методы случайного и детерминированного формирования тестов. В настоящее время методы случайного выбора тестовых наборов практически не используются.

В связи с высокой сложностью и трудоемкостью процесса построения тестов широко применяются интерактивные системы построения тестов, которые предполагают активное участие человека в этом процессе.

При изучении методологии построения тестов в качестве ОД выберем цифровые объекты, так как в теории технической диагностики наиболее глубоко проработаны задачи построения тестов для цифровых схем.

Из всего многообразия методов детерминированной генерации теста (то есть не использующих методику случайного выбора тестовых наборов) рассмотрим основные: с использованием ТН, метод активизации одномерного пути, d-алгоритм, метод булевой производной, метод ЭНФ. Последние четыре метода излагаются относительно комбинационных схем.

Заметим, что для схем с микропроцессорами получили развитие специальные подходы и методы, которые будут рассмотрены позднее.
23. Оценка тестопригодности

Виды оценки тестопригодности:

• Управляемость (оценка обеспечения на входах схемы ЭС значений, необходимых для обнаружения неисправностей)

 

Может быть от 0 до 1. Максимальное значение 1 на входе схемы. Значение 0 там. где невозможно установить логическое состояние, например, заземленный вход.

Значение управляемости на выходах данной схемы зависит от значения управляемости на входах, которое не всегда равно 1.

Yвых=Ky f(Yвх)

Кy - коэффициент передачи управляемости элемента, связанный с этим выходом.

f - зависит от значений управляемости всех входов.

• Наблюдаемость (оценка наблюдения реакции схемы на данную неисправность на ее выходах).

 

Наблюдаемость входа 1, и оа уменьшается по мере продвижения сигналов вдоль активизированного пути.

Коэффициент передачи наблюдаемости Kn - количественная мера, характеризующая уменьшение значения наблюдаемости элемента по мере продвижения к выходу вдоль активизированного пути при условии, что другие элементы схемы управляемы.

Нвых=Kn Нвх g(Увх)

 

Тестопригодность: Т=НУ

 

Общий показатель тестопригодности для всей ЭС определяется как мера средей трудоемкости получения теста для каждого элемента, а следовательно, эта мера является средним арифметическим значением тестопригодности всех элементов ЭС:

TЭС=(T)N где N-число элментов ЭС.


 




Поиск по сайту:

©2015-2020 studopedya.ru Все права принадлежат авторам размещенных материалов.