Помощничек
Главная | Обратная связь


Археология
Архитектура
Астрономия
Аудит
Биология
Ботаника
Бухгалтерский учёт
Войное дело
Генетика
География
Геология
Дизайн
Искусство
История
Кино
Кулинария
Культура
Литература
Математика
Медицина
Металлургия
Мифология
Музыка
Психология
Религия
Спорт
Строительство
Техника
Транспорт
Туризм
Усадьба
Физика
Фотография
Химия
Экология
Электричество
Электроника
Энергетика

Эффекты высокого уровня инжекции



Аналитические выражения для ВАХ р-перехода в (1.49) и (1.53) выводи-

лись исходя из условия малых плотностей токов, протекающих через р-n-

переход (малый уровень инжекции).

Уровни инжекции разделяют на три вида, исходя из соотношения величин

концентрации неосновных носителей, инжектированных в базе, и равновесной

концентрации основных носителей в базе.

Для р+-n-переходов: Δpn << nn0— малый уровень инжекции, pnгр – pn0 = Δpn

nn0 — средний и pnгр – pn0 = Δpn >> nn0 — высокий уровень инжекции

Процессы, происходящие в р-n-переходах при больших плотностях тока,

во многом определяют их работу и существенно видоизменяют аналитические

выражения для ВАХ р-n-переходов. Подробнее рассмотрим те эффекты, кото-рые учитываются при выводе аналитического выражения для ВАХ р-n-

перехода, работающего при высоком уровне инжекции.

Во-первых, появляется электрическое поле в базе, направление которого

способствует быстрейшему переходу неосновных носителей через базу. Появ-

ление поля вызвано следующим: в n-базу поступает такое количество неоснов-

ных носителей Δpn, которое нарушает квазинейтральность области; для ее

обеспечения из вывода базы в базовую область поступает такое же количество

основных носителей Δnn ≈ Δpn. Образуется электрическое поле, направленное

от ОПЗ в глубь базы. Покажем, что наличие электрического поля в базе такого

направления приводит к удвоению коэффициента диффузии неосновных носи-

телей в базе.


Следовательно, коэффициент диффузии неосновных носителей в базе, как

результат воздействия электрического поля, удваивается.

Во-вторых, при высоком уровне инжекции мы не можем считать, что вcе

напряжение, приложенное к нему, падает на ОПЗ р-n-перехода. Действительно,

при малых плотностях тока можно было пренебречь падением напряжения на

омических сопротивлениях эмиттерной и базовой областей, т.е. величина UrЭ +

UrБ ≈ I rБ мала.

Кроме того, дифференциальное сопротивление р-n-перехода rj = dU/dI ве-

лико, так как


обратно пропорциональна величине тока, протекавшего через р-n-переход. При

высоких плотноcтях тока величина rj уменьшается, а UrБ увеличивается. Поэто-

му напряжение, приложенное к р-n-переходу, соcтоит из суммы двух напряже-

ний: напряжения, падающего на ОПЗ р-nерехода, Uj и напряжения, падающего

на сопротивление базы UrБ.


Следует обратить внимание на то, что показатель экспоненты в данном

случае равен qU/2кТ, а не qU/кТ. Появление множителя 1/2 предполагает, что

Uj = UrБ = U/2.

Ток р-n-перехода оказался не зависящим от равновесной концентрации не-

основных носителей, а следовательно, и от концентрации примесей, он опреде-

ляется собственной концентрацией ni. Это связано с тем, что при больших

плотноcтях тока концентрация как неосновных, так и основных носителей оп-

ределяется числом инжектированных носителей и не зависит от содержанияпримесей в полупроводнике.

Для р-n-перехода с длинной базой аналитическое выражение вольт-

амперной характеристики при высоком уровне инжекции


 

 

 
 

 

 

 




Поиск по сайту:

©2015-2020 studopedya.ru Все права принадлежат авторам размещенных материалов.