1. Включите источник питания. Для питания ФЭУ в данной работе используется высоковольтный выпрямитель BCB-I. Включение его в сеть осуществляется тумблером "Сеть". При этом ручка "Высокое напряжение" должна быть в положении "Выкл.", ручки "Грубо" и "Плавно" - в крайнем левом положении. Через 2-3 мин включите высокое напряжение.
2. Приведите пересчетный прибор в. рабочее состояние .Число импульсов на выходе ФЭУ считается при помощи частотомера. Рабочие положения тумблеров и ручек следующие:
а) тумблер "Внешний пуск " - в верхнем положении;
б) "Время индикации" - в среднем положении;
в) "Время измерения" - в положении ;
г) ручка "Канал А" - в положении, указанном чертой на приборе;
д) "Род работы" - в положении "Непрерывный счет".
Кнопка "Внешний пуск" - стирание предыдущего числа. Прекращение счета производится ручкой "Род работы". Она переводится в положение "Выкл".
3. Установите зависимость между напряжением на фотоумножителе и числом зарегистрированных импульсов. Напряжение менять от 1000 до 1700 В через 100 В. Проводите по три измерения при одном напряжении. Время счета задается преподавателем. Результаты измерений занесите в таблицу:
С КОЖУХОМ
БЕЗ КОЖУХА
4. Аналогичные измерения проведите со свинцовым кожухом на счетчике.
5. Постройте график зависимости числа импульсов от напряжения на ФЭУ (со свинцовым кожухом и без него).
1. Устройство и принцип работы сцинтилляционного счетчика.
2. Назначение и принцип работы фотоумножителя.
3. Можно ли регистрировать сцинтилляционным счетчиком нейтроны? Как?
4. Как регистрируются счетчиком -кванты?
5. Что такое конверсионная эффективность счетчика?
6. Назовите основные достоинства сцинтилляционных счетчиков и области их применения.
7. Космическое излучение, его природа и состав.
Лабораторная работа 6
Структурный анализ поликристаллических тел.
•
Цель работы: знакомство с рентгеноструктурными и электронографическими методами анализа поликристаллических тел.
Основные указания
Для выполнения данной работы студентам необходимо знать:
понятие элементарной кристаллической ячейки, основные типы пространственных решеток для металлов /ОЦК, ГЦК, гексагональная/, индексы Миллера
Особое внимание следует обратить на взаимосвязь межплоскостного расстояния и_ индексов Миллера, например, для кубической решетки , где - параметр кристаллической решетки; , , - индексы Миллера.
Важно помнить, что при рассеянии рентгеновских волн, или пучка электронов на кристалле, наблюдается интерференция рассеянных волн, причем, максимумы интерференционно-дифракционной картины определяются известной формулой Вульфа-Брэггов
, (1)
где - длина волны; - угол между направлением распространения волны /волновым вектором/ и семейством плоскостей кристалла с межплоскостным расстоянием ; - порядок отражения (рис.1).
Вместо индексов Миллера удобно рассматривать индексы интерференции , , , которые определяются как , , . (2). Тогда дифракционный максимум с индексами , , , равными (200), получается в результате отражения второго порядка от плоскостей(100). Формула (1) справедлива и для индексов интерференции, в этом случае, - межплоскостное расстояние для плоскостей с индексами ( ).
Измерения углов , образованных дифрагированными лучами с падающим на кристалл лучом, можно производить как с помощью ионизационной камеры и других счетчиков, так и фотографическим методом. При этом надо знать, что пленки, фиксирующие одновременно след многих дифрагированных рентгеновских лучей, называются рентгенограммами, а те, на которых зафиксированы дифрагированные электронные пучки - электронограммами. Бумажные ленты, на которых записаны показания счетчика, - это дифрактограммы.