Помощничек
Главная | Обратная связь


Археология
Архитектура
Астрономия
Аудит
Биология
Ботаника
Бухгалтерский учёт
Войное дело
Генетика
География
Геология
Дизайн
Искусство
История
Кино
Кулинария
Культура
Литература
Математика
Медицина
Металлургия
Мифология
Музыка
Психология
Религия
Спорт
Строительство
Техника
Транспорт
Туризм
Усадьба
Физика
Фотография
Химия
Экология
Электричество
Электроника
Энергетика

Физическое осаждение из паровой фазы



Вакуумное испарение. Согласно кинетической теории Лангмюра-Дэшмана скорость свободного испарения атомов с чистой поверхности в вакууме

определяется уравнением: [ат/см2]

,

где - равновесное давление пара, Па

М – мольная масса

Скорость конденсации пара зависит от взаимного расположения испарителя и подложки, её температуры, состояния поверхности. Давление в системе должно быть меньше 10-3 Па (~10-4 Па). S, Se, Te, Bi, Sb, P, As – испаряются в форме многоатомных кластеров, другие в атомарной форме.

Сложные соединения могут диссоциировать и их компоненты осаждаются при различных температурах, изменяя состав соединения. Не диссоциируют MgF2, B2O3, SiO, GeO, SnO. Этим методом получают PbS, PbSe, PbTe.

Эффективность конденсации повышается при повышении реакционной способности частиц пара.

Эпитаксиальное осаждение. В силу особенностей процесса (сильно пересыщенное состояние паров или жидких реакционных смесей) получаемые пленки являются термодинамически неравновесными образованиями и имеют, как правило, мелкозернистую структуру. При оптимизации процесса толщина слоя может увеличиться до 1 мкм. Различают:

- эпитаксиальное осаждение методом горячей стенки

- молекулярно-лучевую эпитаксию

- графоэпитаксию

1. Эпитаксиальное осаждение методом горячей стенки.Пары от кольцевых испарителей переносятся в объем, ограниченный нагретой цилиндрической оболочкой с температурой больше температуры подложки. Это их гомогенизирует и позволяет повысить качество пленок при конденсации. Используют для соединений AIIBVI и AIVBVI.

2. Молекулярно-лучевая эпитаксия. На монокристаллическую подложку конденсируются направленные пучки атомов или молекул. Направленный пучок возникает при прохождении паров через узкое отверстие (диаметром ~30 - 400 мкм) в сверхвысоковакуумной системе. Пары получают с помощью точечного испарителя, где они находятся под высоким давлением. Это низкоскоростной и дорогой по используемому оборудованию метод. Однако за счёт постоянного контроля структуры, состава пленок при ее росте (есть масс-спектрометр) – метод отличается высокой управляемостью Скорость нанесения не более 0,1 нм с-1. Используется для формирования многослойных структур (сверхрешетки, гетероструктуры), пленок с объемным рельефом.

Используют для соединений AIIIBV, AlGaAs, GaSbAs, InGaAs, GaInAsP.

3. Графоэпитаксия применяется для осаждения на аморфные подложки (SiO2), на которые предварительно наносятся штрихи через 3-4 мкм, зарождение и рост зерен пленки происходит вдоль штрихов.

Ионное распыление. Суть в использовании химически инертных газов, которые бомбардируя мишень (катод) выбивают частицы вещества (атомы, ионы, молекулы и даже блоки частиц) осаждаясь на подложке. Ионы составляют меньше 1%. Скорость осаждения ~ 10 нм/с.

Метод дает очень прочные пленки многокомпонентных соединений.

Различают:

- распыление в тлеющем разряде

- магнетронное ионное распыление

- высокочастотное ионное распыление

- ионно-лучевое распыление

- ионное осаждение

- реактивное ионное распыление

1. Связан с созданием тлеющего разряда при остаточном давлении рабочего газа (Ar) р ~ 1 Па, = 1-3 кV. Расстояние между катодом и анодом около 5 см. Пленки захватывают рабочий газ.

2. Магнитное поле приложено перпендикулярно электрическому, что препятствует выходу электронов из катода, увеличивает ионизацию газа и препятствует бомбардировке ионами анода. Мощность, подводимая к катоду, используется на 60%. Скорость осаждения до 40-50 нм/с. Используется для нанесения SnO2, (SnO2+In2O3), CdS, Cu2S.

3. Газ ионизируют внешним электромагнитным полем (р~0,1 Па). Используют при применении в качестве катода – диэлектрических материалов (положительный заряд на поверхности нейтрализуется) f = 13 МГц. Незаменим для нанесения полупроводниковых и диэлектрических пленок.

4. Ионы создаются в камере с тлеющим разрядом и через отверстия истекают во вторую камеру, р=10-2-10-3 Па. Ионы можно ускорять при прохождении их через отверстие диаметром до 25 см. Используют как для ионного травления, так и для нанесения проводящих и непроводящих пленок (SnO2+In2O).

5. Метод совмещает термическое испарение вещества и осаждение его на подложку с одновременной бомбардировкой подложки положительными ионами (Ar+). Это уплотняет пленки, улучшает их адгезию. Недостаток – захват рабочего газа.

6. Благодаря высокой химической активности ионов и возбужденных атомов получают пленки карбидов, нитридов, оксидов, гидридов, сульфидов, фосфатов и т.д. В плазму тлеющего разряда вводят реакционноспособный газ (галогеноуглероды и др.). Используют для получения МДП и ПДП структур, просветляющих покрытий.

 

 




Поиск по сайту:

©2015-2020 studopedya.ru Все права принадлежат авторам размещенных материалов.