Перелік запитань на іспит

1. Дифракційні ефекти при утворенні твердих розчинів.

2. Експериментальне визначення типу твердого розчину.

3. Впорядкування твердих розчинів. Структурні та надструктурні максимуми. Псевдопогасання.

4. Зв’язок параметра далекого порядку з інтенсивністю надструктурних максимумів.

5. Експерименталье визначення параметра далекого порядку рентгенографічним методом.

6. Рентгенографічне визначення границь розчинності. Метод зникаючої фази та метод аналізу зміни міжплощинних відстаней..

7. Дослідження фазових рівноваг употрійних системах. Визначення напрямків конод.

8. Якісний рентгенівський фазовий аналіз. Використання баз даних про структурні типи та рентгенографічні характеристики неорганічних речовин при проведені якісного фазового аналізу.

9. Зв’язок між інтенсивністю дифракційного максимуму та масовою часткою фази у зразку.

10. Методи кількісного рентгенівського фазового аналізу.

11. Фактори, що визначають чутливість та похибки рентгенівського фазового аналізу.

12. Класифікація та опис текстур Обмежені та необмежені текстури.

13. Рентгенівський аналіз аксіальних (необмежених текстур).

14. Обмежені текстури та методи їх аналізу.

15. Дифракційні методи визначення макронапружень

16. Дослідження мікронапружень методом апроксимацій

17. Визначення статичних спотворень кристалічної гратки

18. Експериментальні методи дослідження структури некристалічних речовин.

19. Рентгенографічні методи визначення розмірів кристалітів.

20. Роздільне визначення розмірів кристалітів та мікронапружень методом апроксимації.

21. Малокутове розсіювання Х-променів.

22. Аналіз процесів розпаду пересичених твердих розчинів.

23. Аналіз структурних змін, що відбуваються при нагріванні попередньо деформованих матеріалів.

24. Інтенсивність відбивання у випадку Брегівської дифракції для ідеального та ідеально-мозаїчного кристала. Екстинкційна довжина та її зв”язок із структурною досконалістю кристалу.

25. Двокристальний спектрометр, його властивості та геометричні умови.

26. Власна крива відбивання двокристльного спектрометра. Напівширина власної кривої відбивання та її фізичний зміст.

27. Модель малокутової границі по Бюргерсу та її експериментальна перевірка. Кут мозаїчності та його зв”язок з густиною дислокацій.

28. Основи трьохкристальної рентгенівської спектрометрії.

29. Атомна амплітуда розсіювання електронів та її кутова залежність.

30. Інтенсивність дифракційних максимумів на електронограмах.

31. Побудова Евальда для електронографії.

32. Індексування точкових та кільцевих електронограм.

33. Особливості дифракції повільних електронів..

34. Області застосування електронографії. Методичні особливості проведення електронографічного експерименту.

35. Взаємодія нейтронів з речовиною. Переріз ядерного розсіювання нейтронів. Потенціяльне та резонансне розсіювання нейтронів.

36. Фізичні принципи структурної нейтронографії.

37. Методи структурної нейтронографії.

38. Застосування нейтронографічних методів для дослідження структури полікристалів.

39. Взаємодія теплових нейтронів з магнетиком.

40. . Методи розділення ядерної та магнітної компонентів розсіювання.

41. Методика нейтронографічного визначення магнітних структур.

42. Вивчення розподілу магнітного моменту в кристалах та аморфних сплавах.

43. Фізичні основи динамічної теорії Евальда-Лауе. Хвильові поля в кристалі.

44. Зв’язок діелектричної сприйнятливості із структурною амплітудою.

45. Основне рівняння динамічної теорії Евальда-Лауе.

46. Поняття про дисперсійні поверхні.

47. Однохвильове наближення динамічної теорії

48. Двохвильове наближення динамічної теорії.

49. Рівняння дисперсійної поверхні у двохвильовому наближенні.

50. Хвильові поля в кристалі у геометрії Брегга.

51. Хвильові поля в кристалі у геометрії Лауе.

52. Визначення положень центрів розповсюдження (обмежений кристал).

53. Співвідношення між амплітудами та фазами хвиль, що належать одному центру розповсюдження.

54. Аномальне проходження Х-випромінювання через кристал. Інтерференційний коефіцієнт поглинання.

55. Фізичне природа явища Бормана.

56. Маятниковий розв’язок Евальда.

57. Експериментальне спостереження інтерференційних смуг. Основи рентгенівської інтерферометрії.

58. Схеми топографічних методів дослідження дефектів кристалічної будови майже досконалих кристалів.

59. Природа контрасту у методі Берга-Баррета.

60. Природа контрасту у методі Ланга.

61. Природа контрасту у методі Бормана.

62. Перспективи розвитку методів рентгенівської топографії.

ТИПОВА СТРУКТУРА ЕКЗАМЕНАЦІЙНОГО БІЛЕТУ

1. Зв’язок параметра далекого порядку з інтенсивністю надструктурних максимумів. (15 балів)
2. Дослідження мікронапружень методом апроксимацій. (15 балів)
3. Області застосування електронографії. Методичні особливості проведення електронографічного експерименту. (10 балів)

Поиск по сайту: